Методы
и оборудование
и оборудование
Внимание! Сайт находится в разработке
Производитель: Jeol, Япония, 1996
Получение электронно-микроскопических изображений и определение элементного состава исследуемого вещества
Получение электронно-микроскопических изображений и определение элементного состава исследуемого вещества
JSM 6400
Vega 3 LMH
Производитель: TESCAN, Чехия, 2011
Получение электронно-микроскопических изображений, определение элементного состава и кристаллической структуры исследуемого вещества
Получение электронно-микроскопических изображений, определение элементного состава и кристаллической структуры исследуемого вещества
Nova 1200
Производитель: Quantachrome Instruments, Соединённые Штаты Америки, 2013
Измерение удельной поверхности и размера пор дисперсных объектов на основании данных по сорбции азота при температуре -196°С
Измерение удельной поверхности и размера пор дисперсных объектов на основании данных по сорбции азота при температуре -196°С
Сканирующий электронный микроскоп с системой волнового и энергодисперсионного микроанализа
Микроскоп электронный сканирующий с энергодисперсионной приставкой и EBSD детектором
Лабораторная установка для измерения удельной поверхности и размера пор
Photocor Complex
ООО "Фотокор", Россия, 2013
Измерение гидродинамического радиуса частиц в жидкой среде в интервале от 0.5 нм до 5 мкм
Измерение гидродинамического радиуса частиц в жидкой среде в интервале от 0.5 нм до 5 мкм
Спектрометр динамического рассеяния света
Прибор СТА
Производитель: Mettler-Toledo GmbH, Швейцария, 2020
Измерение термодинамических характеристик (удельная теплота, температура фазовых переходов), а также регистрации изменения массы в диапазоне температур 19-1100°С.
Измерение термодинамических характеристик (удельная теплота, температура фазовых переходов), а также регистрации изменения массы в диапазоне температур 19-1100°С.
Прибор синхронного термического анализа
Производитель: NT-MDT, Россия, 2009
Визуализация поверхности и свойств объектов с нанометровым разрешением
Визуализация поверхности и свойств объектов с нанометровым разрешением
Ntegra Prima
GC 17A
Производитель: Shimadzu, Япония, 2004
Хроматографический анализ амино-кислотного состава вещества
Хроматографический анализ амино-кислотного состава вещества
JFC-1600
Производитель: Jeol, Япония, 2004
Нанесение тонкопленочных металлических покрытий (Ag, Au, Pt) в условиях низкого вакуума методом магнетронного напыления
Нанесение тонкопленочных металлических покрытий (Ag, Au, Pt) в условиях низкого вакуума методом магнетронного напыления
Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии
Хроматограф газовый
Напылительная установка для вакуумного осаждения металла
VEF
Производитель: Akashi, Япония, 1974
Напыление тонких пленок углерода и металлов посредством их испарения в высоком вакууме
Напыление тонких пленок углерода и металлов посредством их испарения в высоком вакууме
Напылительная установка для вакуумного осаждения углерода и металлических пленок
Хроматограф газовый
Цвет-800
Цвет-800
ООО «ЦВЕТ», Россия, 2001
Хроматографический анализ газового состава включений минералов и горных пород
Хроматографический анализ газового состава включений минералов и горных пород
© 2023 made by Golubeva Polina
Меню
- Главная
- Новости
- События
Научная деятельность
- Научные направления
- Достижения
- Экспедиции
Сотрудничество
- Сотрудники института
- Обратная связь
- хmin@geo.komisc.ru
- 8 8212 442 216
